Euromex – Achios-X Observer Metallurgical – Trinoculaire Microscoop
De Euromex Achios-X Observer AX.1053-APLMRi is een geavanceerde trinoculaire microscoop, speciaal ontwikkeld voor toepassingen binnen de materiaalwetenschappen en industriële kwaliteitscontrole. Deze metallurgische microscoop maakt gebruik van zowel gereflecteerde (epi) als doorvallende verlichting, waardoor hij uitermate geschikt is voor het analyseren van metalen, coatings, halfgeleiders en andere niet-transparante materialen.
De microscoop is uitgerust met een combinatie van Plan Semi-Apochromatische en Plan Apochromatische IOS-objectieven, die zorgen voor uitzonderlijke scherpte, kleurcorrectie en contrast. Dit maakt het mogelijk om oppervlakte- en structuurdetails uiterst nauwkeurig te analyseren, zelfs bij hogere vergrotingen.
De geïntegreerde brightfield en darkfield epi-verlichting biedt maximale flexibiliteit bij het inspecteren van verschillende materiaalsoorten. Dankzij het roterende cassettensysteem kan snel worden geschakeld tussen reflectie- en doorlichtingsmodi, wat de efficiëntie tijdens inspecties aanzienlijk verhoogt.
De trinoculaire kop met 50:50 beamsplitter maakt deze microscoop ideaal voor digitale beeldregistratie en documentatie. Hierdoor is het eenvoudig om een camera aan te sluiten voor analyse, rapportage of kwaliteitscontroleprocessen.
De Achios-X Observer is ontworpen met oog voor ergonomie en gebruiksgemak. De ruime rackless mechanische tafel met glas- en metalen inleg zorgt voor stabiele en veilige positionering van monsters, terwijl de nauwkeurige scherpstelling optimale controle biedt bij het werken op micronniveau.
De krachtige 3W NeoLED™ verlichting met instelbare kleurtemperatuur levert een helder en homogeen beeld. In combinatie met Smart Light Control (SLC) wordt de lichtintensiteit automatisch aangepast en opgeslagen per objectief, wat zorgt voor een efficiënte workflow en consistente resultaten.
Voor geavanceerde toepassingen kan de microscoop optioneel worden uitgebreid met Nomarski DIC (Differential Interference Contrast), waarmee hoogteverschillen en oppervlaktetexturen zichtbaar worden als reliëfachtige beelden – ideaal voor high-end materiaalanalyse.
Belangrijkste kenmerken
- Trinoculaire microscoop met 50:50 beamsplitter (camera-ready)
- Brightfield en darkfield epi-verlichting voor materiaalonderzoek
- Plan Semi-Apo en Plan Apochromatische IOS-objectieven
- Geschikt voor niet-transparante materialen (metalen, coatings, wafers)
- NeoLED™ verlichting met instelbare kleurtemperatuur
- Smart Light Control (SLC) voor automatische lichtinstellingen
- Rackless tafel met glas- en metalen inleg
- Snelle wisseling tussen reflectie- en transmissiemodus
- Optioneel uitbreidbaar met DIC voor geavanceerde analyse
Toepassingen
- Metallurgie en materiaalanalyse
- Industriële kwaliteitscontrole
- Halfgeleider- en waferinspectie
- Analyse van coatings en oppervlakken
- Onderzoek en R&D
